ایہر ٹیسٹ سسٹمز اپنے جی اے این ڈیوائس ٹیسٹنگ سسٹم کے لیے کلیدی آٹوموٹو سیمی کنڈکٹر آرڈر حاصل کرتا ہے۔ Aehr Test Systems lands key automotive semiconductor order for its GaN device testing system.

ایہر ٹیسٹ سسٹمز کو ایک معروف آٹوموٹو سیمی کنڈکٹر سپلائر سے اپنے فاکس-ایکس پی ویفر سطح کے ٹیسٹ اور برن ان سسٹم کے لیے ابتدائی پروڈکشن آرڈر موصول ہوا۔ Aehr Test Systems received an initial production order for its FOX-XP wafer-level test and burn-in system from a leading automotive semiconductor supplier. آٹوموٹو، سولر اور ڈیٹا سینٹر ایپلی کیشنز میں استعمال ہونے والے گیلیئم نائٹرائڈ (جی اے این) ڈیوائسز کے لیے ڈیزائن کیا گیا یہ نظام جلد ہی شپنگ شروع کر دے گا۔ The system, designed for gallium nitride (GaN) devices used in automotive, solar, and data center applications, will begin shipping soon. جی اے این ڈیوائسز کے نمایاں طور پر بڑھنے کی توقع ہے، 2029 تک مارکیٹ 2. 5 بلین ڈالر تک پہنچنے کا امکان ہے۔ GaN devices are expected to grow significantly, with the market projected to reach $2.5 billion by 2029.