Nearfield Instruments نے QUADRA کے لیے 'لائٹنگ موڈ' کا آغاز کیا، جو جدید سیمی کنڈکٹر آلات کے لیے ایک تیز ترین AFM میٹرولوجی سسٹم ہے۔ Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA, a faster AFM metrology system for advanced semiconductor devices.

Nearfield Instruments نے QUADRA® کے لیے 'لائٹنگ موڈ' کا آغاز کیا، جو اعلی درجے کے سیمی کنڈکٹر آلات کے لیے سب سے زیادہ تھرو پٹ AFM میٹرولوجی سسٹم ہے۔ Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA®, the highest-throughput AFM metrology system for advanced semiconductor devices. QUADRA اب ہائی والیوم مینوفیکچرنگ کے لیے مکمل طور پر اہل اور تعینات ہے، جو میموری، منطقی عمل، اور اعلیٰ تناسب کے ڈھانچے کے لیے 3D غیر تباہ کن میٹرولوجی پیش کرتا ہے۔ QUADRA is now fully qualified and deployed for high-volume manufacturing, offering 3D non-destructive metrology for memory, logic processes, and high-aspect-ratio structures. یہ اختراع وقت سے پیداوار اور HVM پیداوار کی اصلاح اور کنٹرول کو تیز کرتی ہے۔ This innovation accelerates time-to-yield and HVM yield optimization and control.

مضامین

GlobeNewswire

TMCnet

Finanz Nachrichten

-- کم دکھائیں --

متعلقہ کہانیاں